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當(dāng)前位置：首頁(yè) / 產(chǎn)品中心 / 其他專用儀器 / 檢測(cè)儀 / KDK-KDY-1B便攜式電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
便攜式電阻測(cè)試儀/便攜式電阻率儀/便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀 型號(hào)：KDK-KDY-1B便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
產(chǎn)品分類
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2024-05-102025-12-262025-12-162025-11-27| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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便攜式電阻測(cè)試儀/便攜式電阻率儀/便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀 型號(hào)：KDK-KDY-1B
便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
便攜式電阻測(cè)試儀 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的際及家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定。
它主要由電器測(cè)量份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。
為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測(cè)量電及阻率。樣品測(cè)試電由寬的恒源提供，隨時(shí)可行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分選材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω·cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量誤差不過(guò)±5%，在此范圍內(nèi)達(dá)到家標(biāo)準(zhǔn)二機(jī)的水平。
2、測(cè)試儀結(jié)構(gòu)及原理
測(cè)試主機(jī)由主機(jī)板、前面板、后背板及機(jī)箱組成，數(shù)字表、測(cè)試電換檔開(kāi)關(guān)、電阻率/方阻轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)、校準(zhǔn)/測(cè)量變換開(kāi)關(guān)以及電調(diào)節(jié)電位器均裝在前面板上。后背板上只裝有電源、電源開(kāi)關(guān)、保險(xiǎn)管及四探針連接。機(jī)箱底板上字裝了主機(jī)板。前后面板與主機(jī)板之間的聯(lián)接均采用接插件，便于拆卸維修。
參數(shù)：
測(cè)量范圍：
可測(cè)量電阻率：0.1～1999Ω·cm。
可測(cè)方塊電阻： 1～19990Ω/□
當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥1999Ω·cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒源：
輸出電：DC 0.01mA～1mA分兩檔
0.1mA量程：0.01～1mA 連續(xù)可調(diào)
1mA量程：0.1mA ～1mA連續(xù)可調(diào)
恒度：各檔均優(yōu)于±0.1%
（1） 直數(shù)字電壓表
測(cè)量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）
（2） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W
（3） 使用環(huán)境：
相對(duì)濕度≤80%
（4） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×100×深240（mm）
010-51655247
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